用于细胞筛选的可靠而精准的自动化成像技术
基于显微镜的计量依赖于高性能的移动装置和高质量的光学仪器。部件的特征描述和测量对生产至关重要,根据显微镜的不同,可以通过多种方式进行。
基于对比度的信息可用于根据焦点确定形貌。闭环平台运动有助于精准确定物体的相对横向位置。高端显微镜技术,如原子力显微镜,可以在高分辨率条件下应用这些原理,甚至可以进行皮米级的精准测量。
误差分析及合规性
计量学可确定是否符合工业标准或设计规范。如果偏离其中之一,则可将样品归类为正确样品,或提供发生错误的统计数据。计量显微镜可进行各种测量,包括:
表面分析:使用原子力显微镜或电子显微镜可以测量亚纳米级的粗糙度和波纹度,使用共聚焦显微镜或白光干涉仪结合高性能显微镜自动化系统可以测量低纳米级的粗糙度和波纹度。
3D 测量:使用传统显微镜光学元件结合自动化技术可以生成低微米分辨率物体的形貌轮廓,并通过 AFM、电子显微镜或其他方法获得高分辨率。
特征识别:在较低分辨率下,成像方法会对测量质量产生很大影响。暗场照明或微分干涉对比 (DIC) 可用于识别使用标准明场显微镜不易识别的特定特征。
来自显微镜专家的闭环自动化
我们在制造显微镜自动化组件方面拥有 30 多年的经验,从传统的复合显微镜增强功能到市场领先的纳米定位技术。 高质量的线性编码和广泛的测试程序确保我们的 ProScan III 载物台系统的性能符合亚微米分辨率显微镜所需的标准。 我们的 Queensgate 纳米定位技术以电容式传感器和低噪声电子设备为基础,可实现皮米级测量。我们的产品(如 NPS-XY-100A)已被证明是 AFM 等高端显微镜技术的补充。
主要特点
高线性度:0.005% (NPS-XY-100A)
高速:1.4 ms 步进整定时间 (NPS-X-15A)
闭环定位:±0.7 μm 全行程重复性 (FB203E)